高压抗干扰介质损耗测试仪技术指标

高压抗干扰介质损耗测试仪是一种测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。

高压抗干扰介质损耗测试仪技术指标

  1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）

  2、相对湿度：20%～80%

  3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz

  4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm

  5、重量：18kg

  6、高压抗干扰介质损耗测试仪输出功率：1.5KVA

  7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

  8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

  9、测量范围：内接试验电压：tgδ：99.9%

                               Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

                               10KV  Cx＜60000 pF

                               5KV   Cx＜80000 pF

                               2.5KV  Cx＜0.3uF

                  外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定

 10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%  

                    电容容量（Cx）：1.5%±1pF

 11、高压抗干扰介质损耗测试仪分辨率： tgδ：0.01%    Cx ：0.1pF

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