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一、SXJS-IV介质损耗测试仪概况

本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

二、SXJS-IV介质损耗测试仪技术指标

 1、环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照）

 2、相对湿度：30%～70%

 3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz

 4、外形尺寸：长*宽*高=500mm*300mm*400mm

 5、重量：28kg

 6、输出功率：1.5KVA

 7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

 8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

 9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF（10KV电压大于30000PF）

          外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定

10、基本测量误差：

介质损耗（tgδ）：1%±0.04%

电容容量（Cx）：1%±1pF

三、结构

仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV～10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。